Електроніка майбутнього стане надійнішою. Американські вчені знайшли спосіб виявляти приховані дефекти у надтонких матеріалах

Це відкриття має вирішальне значення для виробництва передових транзисторів, фотодетекторів та квантових пристроїв, створення яких базується на пошаровому накладанні двовимірних матеріалів один на одного.

Читайте также: Для майбутніх колоній. Вчені перетворили відходи на ґрунт для вирощування рослин на Місяці та Марсі

Одним із ключових елементів такої «сендвіч-архітектури» є гексагональний нітрид бору(hBN) — ідеально плаский ізолятор, що цінується за свою хімічну стабільність. Проте, як з’ясувала група під керівництвом доцента Хе Йон Лі, цей матеріал часто містить приховані дефекти пакування. Ці дефекти нагадують вузькі складки, що виникають між сторінками книги під час їх зміщення. Вони діють як мікроскопічні «кишені» для електричних зарядів, що локально послаблюють ізоляційні властивості матеріалу та спричиняють передчасні поломки пристроїв при низьких напругах.

Експериментальним шляхом вчені довели, що звичні методи обробки матеріалів, як-от відокремлення тонких лусочок за допомогою клейкої стрічки та їх перенесення на кремнієві пластини, провокують появу деформацій. Під звичайними оптичними або атомно-силовими мікроскопами ці поверхні виглядають бездоганно гладкими. Однак використання катодолюмінесцентної спектроскопії дозволило зафіксувати випромінювання глибокого ультрафіолетового світла, яке й виявило яскраві «лінії пошкоджень», невидимі для інших методів.

Дослідження показало, що дефекти утворюються частіше у товстіших чешуйках матеріалу. Через ці структурні аномалії два ідентичні за виглядом пристрої можуть працювати абсолютно по-різному: один виконуватиме свої функції, а інший — пропускатиме струм там, де має бути ізоляція. Розроблений комбінований підхід, що поєднує електронну мікроскопію та картування випромінювання, дозволяє відсіювати браковані компоненти ще на етапі виробництва.

Читайте также: Сонце взяло вихідний. Наша зірка вперше за чотири роки залишилася без жодної плями

За словами авторів роботи, ця методика є універсальною і може бути застосована до інших шаруватих матеріалів. Це відкриває шлях до створення нового покоління надійної електроніки, де кожен атом перебуває на своєму місці, забезпечуючи стабільну роботу надскладних обчислювальних систем.